GB 13555-1992 印制电路用挠性覆铜箔聚酰亚胺薄膜
作者:标准资料网 时间:2024-05-19 11:28:46 浏览:8211
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 印制电路用挠性覆铜箔聚酰亚胺薄膜 |
| 英文名称： | Flexible copper-clad polyimide film for printed circuits |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
电子元件 >>
印制电路 |
| ICS分类： |
电子学 >>
印制电路和印制电路板
|
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1992-07-08 |
| 实施日期： | 1993-04-01 |
| 首发日期： | 1992-07-08 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 提出单位： | 中华人民共和国机械电子工业部 |
| 归口单位： | 机械电子工业部广州电器科学研究所 |
| 起草单位： | 机械电子工业部广州电器科学研究所 |
| 起草人： | 胡学为、耿如霆 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 6页 |
适用范围
本标准规定了印制电路用挠性覆铜箔聚酰亚胺薄膜的各项性能要求。
本标准适用于印制电路用挠性覆铜箔聚酰亚胺薄膜。
本标准规定有“供选用”的技术要求这些要求只有在供需双方同意的情况下才适用在没有要求的情况下，满足所有未注明“供选用”字样的技术要求，则认为符合本标准。
前言
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 电子元件 印制电路 电子学 印制电路和印制电路板
【英文标准名称】:StandardTestMethodforDurabilityWearTestingofSeparableElectricalConnectorSystemsUsingElectricalResistanceMeasurements
【原文标准名称】:使用电阻测量的可拆式电气连接器系统耐磨损测试用标准试验方法
【标准号】:ASTMB794-1997(2009)
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:1997
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:B02.11
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:接触电阻;电气触点;温度和湿度循环试验;磨损;磨损痕迹;加速老化测试-电气加热/接触材料;退化-电触点材料;耐久性-建筑材料/设施;电阻/电阻系数-电触点材料;性能-电气/电子系统/设施;温度试验-电触点材料;压实阻力;循环温度-湿度试验;电气连接器;电触点材料;电性能;湿度;插入/拔出循环;机械性能;温度-湿度循环试验;振动试验;磨损测试
【英文主题词】:contactresistance;electricalconnectors;electricalcontacts;temperatureandhumiditycyclingtest;wear;weartracks;Acceleratedaging/testing--electricalheating/contactmaterials;Degradation--electricalcontactmaterials;Durability--buildingmate
【摘要】:Materialsforelectricalconnectorcontactsmustsatisfyanumberofrequirementsintheareasofelectrical,mechanical,andeconomiccharacteristics.Thestabilityofelectricalpropertiesisoneofthemostimportantofthesecharacteristics.Wearofcontactsurfacesmayadverselyaffecttheseelectricalproperties,especiallyindesignswherethecontactsurfacesarerelativelythincoatings.Thistestmethodprovidesameanstocomparevariousmaterialsystemsonabasisrelevanttotheirapplicationinelectricalconnectorcontacts.Repeatedinsertionandwithdrawalofaconnectormaycausewearorothermechanicaldamagetotheelectricalcontactsurfaces,renderingthosesurfacesmoresusceptibletoenvironmentaldegradation.Thistestmethodisintendedtodetectdegradationoftheelectricalpropertiesoftheconnectorbysuchprocesses.Thistestmethoddescribesproceduresforconductingwearanddurabilitytestingofelectricalconnectors;theproceduresproducequantitativeresults.Theseresultsmaybeusedtocomparetheperformanceofdifferentconnectordesignssothatmeaningfuldesignchoicescanbemade.Suchresultsmayalsobeusedtocomparetheperformanceofaconnectortoapreviouslyestablishedstandardtoevaluatethequalityofthesamplesundertest.Thetestresultsobtainedfromthistestmethodarelimitedintheirapplicabilitytoconnectorcombinationsthatareequivalentindesignandmanufacturetothoseactuallytested.Theuseriscautionedthattheconditionsinthistestshouldbecomparedtotheconditionsthattheconnectorwillexperienceintheintendedapplicationinordertodeterminetherelevanceofthistestmethodtotheparticularneedsoftheuser.Forexample,theenvironmentalstressinthistestmethodislessseverethancertainindustrialandmarineenvironmentsandthereforetestresultsarenotdirectlyapplicabletopredicttheperformanceofproductintendedforuseinsuchareas.Itisrecommendedthatthistestmethodbeusedinoneoftwoways.First,itmaybeusedtoevaluateandreporttheperformanceofaparticularconnectorsystem.Insuchacase,itisappropriatetoreporttheresultsinatableintheformatshowninFig.1andtostatex201C;Theresultsshowninthetablewereobtainedfor(insertconnectordesignationordescription)whentestedinaccordancewithASTMStandardB794,Method__,Procedure__.x201D;Second,itmaybeusedtoimposerequirementsforacceptanceofproduct.Inthiscase,limitsforthevaluesshowninFig.1mustbeestablishedpriortoproductacceptancetesting.Suchlimitsmaybeestablishedbyvariousmethodssuchasbyevaluationofproductwhichisknowntobeacceptableorbyapplicationofappropriateexperience.Theselimitsmustbedocumentedinamannerthattheentityperformingtheproducttestcanrefertothelimitstodetermineifthetestproductconformstosuchlimits.Apurchasermaywishtosupplyatableoflimitsandincludeonthepurchaseorderastatementsimilarto:x201C;Theproduct,whentestedinaccordancewithASTMStandardB794,Method__,Procedure__,shallmeetthelimitsinthesuppliedtable.x201D;ThistablesuppliedbythepurchasermaysetlimitsonallofthevaluesinFig.1,oronlyonasubsetofthosevaluesthatthepurchaserdeemsadequatetoensuretheperformanceoftheproduct.FIG.1SampleFormatforReportingResults1.1Thistestmethodcoverstheeffectsofrepeatedinsertionandwithdrawalofseparableelectr......
【中国标准分类号】:L23
【国际标准分类号】:29_120_30
【页数】:6P.;A4
【正文语种】:
【英文标准名称】:Reliabilitydetailstobegivenindatasheets;modeofrepresentation
【原文标准名称】:分立半导体器件和集成电路可靠性说明；表示方法
【标准号】:DIN41794Bb.2-1972
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:
